随机光学重建显微镜(stochastic optical reconstruction microscopy, STORM)技术和受激发射损耗 (stimulated emission depletion, STED)显微镜技术是近年来发展迅速的两种超分辨率荧光显微镜技术｡ 这两种技术 均提供超越传统荧光显微镜分辨率成像的功能,具有多色显像,三维成像以及活细胞内成像的潜力｡ 在这篇综述 中,我们关注两种技术荧光控制､激光强度等技术参数设定,同时结合样品制备､图像采集与处理等流程优化对比 两者在分辨率､图像采集时间及具体应用中的优劣｡ STORM可获得更高的三维分辨率,但可能需要更长的图像采 集时间｡ STED需要较高损耗光强度,却能在图像采集后立即生成超分辨率图像,不需要额外图像数据处理｡ 最 终,选择STORM和STED不仅取决于技术的具体应用,还取决于操作者优化各环节技术参数的能力,从而决定图像 质量｡ 

全文阅读：STORM和STED显微成像技术特点的比较