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短期低频电刺激对长距离陈旧性(8周)周围神经缺损再生能力的影响
2021年07月14日
来源:中国比较医学杂志2021年第5期
作者:焦海山 宋悦宁 肖波 黄健 李东印
责任编辑:admin
摘要:探索短期低频电刺激对长距离陈旧性(8 周)周围神经缺损再生能力的影响。
目的 探索短期低频电刺激对长距离陈旧性(8 周)周围神经缺损再生能力的影响。
方法 切除一 段成年雌性 SD 大鼠左侧坐骨神经,饲养 8 周后,修剪近、远侧神经断端制成大鼠坐骨神经长距离陈旧性缺损模型。 实验组切取对侧正常坐骨神经桥接缺损并施以短期低频电刺激,对照组同样桥接但不予电刺激。 根据实验需要继续饲养不同时间后取材,利用神经三色染色、免疫组织化学染色、免疫荧光染色, 逆行示踪、电镜观察等组织学方法 观察内源性神经因子表达及神经再生情况。
结果 免疫荧光染色显示实验组内源性神经因子的表达相对较早也较明显,但逆行示踪实验在两组动物中皆观察到类似数量和形态的神经元标记结果,再生神经组织的三色染色、免疫荧光染色及电镜观察等也在两组动物中观察到相似形态的再生神经纤维,未发现实验组相对对照组有更好的神经再生表现,靶肌肉的相对湿重比及运动终板的组织化学染色亦未观察到明显优势。
结论 术中短期低频电刺激 能对缺损超过 8 周的长距离陈旧性周围神经缺损发挥有限的影响。
阅读原文:短期低频电刺激对长距离陈旧性(8周)周围神经缺损再生能力的影响.pdf
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